系列学术沙龙活动——FIB在微区加工和透射样品制备中的应用

FIB（聚焦离子束，Focused Ion beam)是将液态金属 (Ga)离子源产生的离子束经过离子枪加速聚焦后照射于样品表面产生二次电子或二次离子信号取得形貌图像；或用强电流离子束对表面原子进行剥离，以完成微、纳米级表面形貌加工。

本期学术沙龙活动将请到材料学院贾佳琦老师，为大家介绍FIB在微区加工和透射样品制备中的应用。感兴趣的小伙伴们还犹豫什么呢？

主讲内容

中心实验室的Zeiss Auriga 聚焦离子束（FIB）场发射扫描双束电镜是一个综合性操作平台，设备所配备的Gemini-Lens镜筒可以对磁性材料进行成像，利用离子束的微纳加工特性，还可以对样品的结构进行三维重构 ，或者结合EBSD探头进行3D-EBSD. 除此之外电镜还配备了EBSD探头、EDS能谱探头、EsD等探头可以进行晶体取向和化学成分分析。FIB–SEM 双束系统是一台综合性的样品加工测试工作台。本次讲座主要针对FIB在微区加工和透射样品制备中的应用等问题而展开。

主讲者介绍

贾佳琦，助理工程师。目前主要负责Zeiss Auriga FIB 电镜的管理与应用，同时承担本科FIB电镜实验教学工作。

2014/7 – 至今 重庆大学 材料科学与工程学院 中心实验室

2010/4 - 2013/10，德国德累斯顿工业大学，材料学，硕士（Diplom）

2005/9 - 2009/7，武汉科技大学，冶金工程，学士

活动时间：2014年4月24日（本周五）下午3:30

活动地点：重庆大学B区材料学院二楼学术报告厅

咨询地点：重庆大学A校区研究生院505

咨询电话：023—65111933

欢迎感兴趣的同学前来参加！

主办：重庆大学研究生院

承办：重庆大学研究生创新实践基地

重庆大学研究生科学技术协会

欢迎关注“重大研究生创新实践基地”